Scanning Electron Microscope
- Ilmoituksen laji
- Hankintailmoitus
- Julkaistu
- 2.4.2025
- Määräaika
- 2.5.2025
Hankinnan tiedot
Tiedot ovat hankintayksikön ilmoituksesta sellaisinaan; menettely, toteutuspaikka ja CPV-koodin pääryhmä on nimetty suomeksi. Sanasto
Lähde: Hilma, ilmoitus 2025-022718.
- Menettely
- Avoin menettely
- Mitä hankitaan
- Tavarat
- Hankinnan laji
- EU-hankinta
- Hankinnan ala (CPV-koodit)
- Laboratorio- ja tarkkuuslaitteet (38511000)
- Toteutuspaikka (NUTS)
- Pohjois-Karjala (FI1D3)
Kuvaus
Hankintayksikön oma kuvaus hankinnasta.
Lähde: Hilma, ilmoitus 2025-022718. Liitteet ja yhteystiedot ovat alkuperäisessä ilmoituksessa.
Scanning Electron Microscope Instrument to be purchased is a Scanning Electron Microscope (SEM) for 200 mm standard wafer compatibility. An automated measurement over entire wafer is required. Also, EDS detector and 3D metrology are required. The instrument shall include standard back scattered electrons and secondary electrons detectors as well as cathodoluminescence detector. The SEM to be purchased will replace our current LEO 1550 used since 1997.,